Materials Research

Mikroelektronik für die Gesellschaft:
"More than Moore"-Materialforschung für moderne Bauelemente in der Mikroelektronik

Die Abteilung Materials Research des IHP widmet sich der Integration von innovativen "More than Moore"-Bauelementen in der Mikroelektronik. Das Ziel ist ein hohes Maß an Integration von modernen Bauelementen, so dass das Potential moderner Siliziumtechnologien direkt gesellschaftliche Herausforderungen adressieren kann.

Der Erfolg dieses Ansatzes beruht vor allem auf der engen Zusammenarbeit mit allen Abteilungen des IHP. Zusätzlich ist die Abteilung Materials Research weltweit mit führenden Forschungseinrichtungen vernetzt, um frühzeitig vielversprechende Ansätze der Materialwissenschaft für künftige Bauelemente in der Mikroelektronik identifizieren zu können.

Die Basis für unsere "More than Moore"-Materialforschung wird durch die moderne IHP-Infrastruktur ermöglicht, inklusive moderner Anlagen für die Dünnfilmdeposition als auch -prozessierung sowie deren Charakterisierung.

Die Abteilung engagiert sich aktiv bei der Ausbildung junger Studierender und der Förderung junger Wissenschaftler und Wissenschaftlerinnen. Auf der Basis von Hochschulkooperationen bieten IHP-Wissenschaftler und Wissenschaftlerinnen Vorlesungen an mehreren Hochschulen in Berlin-Brandenburg an und es bestehen aktive Partnerschaften und Studentenaustauschprogramme mit nationalen und internationalen Universitäten. Sie können uns jederzeit gern kontaktieren, um sich über die Möglichkeiten der Anfertigung Ihrer Bachelor-, Master- oder Doktorarbeit im Bereich Materialforschung in unserer Abteilung mit uns auszutauschen.

Wir sind für neue Ideen immer offen und laden Sie herzlich ein, mit uns in Kontakt zu treten!

Technische Kompetenzen

  • Identifizierung neuer Materialien für zukünftige, siliziumbasierte Mikro- und Nanotechnologien
  • Prozessentwicklung isolierender Schichten, Halbleiter und Metalle durch MBE und MO-CVD-Verfahren
  • Materialcharakterisierung mit Labor- als auch mit Hilfe moderner synchrotronbasierter Methoden
  • elektrische Charakterisierungstechniken
  • Prozessschritt-Entwicklung für die Integration neuer Materialien
  • theoretische ab-initio-Simulationsstudien der Eigenschaften von Isolatoren und Halbleitern

Prof. Dr. rer. nat. habil.

Christian Wenger

Abteilungsleiter

IHP 
Im Technologiepark 25
15236 Frankfurt (Oder)
Deutschland

Sekretariat:
Yvonne Mausolf
Telefon: +49 335 5625 129
Fax: +49 335 5625 681
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