Die Gruppe Systemintegration und Testservices befasst sich mit Themen aus den Bereichen ASIC-Design, Testmethoden auf Chips und Wafern, Chipintegration in Gehäusen oder auf Leiterplatten sowie Demonstratorintegration. Diese Gruppe konzentriert sich auf die Bereitstellung von Dienstleistungen für interne oder externe Kunden oder auf die Arbeit an anwendungsbezogenen, branchenrelevanten Projekten.
Forschungsziele
- Chip Design & Test
- Chip Integration
- Demonstrator Integration
Service
- ASIC-Entwurf
- Test von digitalen und mixed-Signal-SoCs
- Messung von antennenbasierten Systemen
- Leiterplattenentwurf
- Chip Assembly
- Demonstrator Integration
