Die Forschungsgruppe Design & Test Methodology befasst sich mit Themen in den Bereichen ASIC-Design, Testmethoden auf Chip- und Wafer-Ebene sowie Chip-Integration in Gehäuse oder Leiterplatte. Diese Gruppe konzentriert sich auf die Bereitstellung der Dienstleistungen für interne oder externe Kunden oder die Arbeit an den angewandten industrierelevanten Projekten.
Forschungsziele
- Chip Design & Test
- Chip Integration
Forschungsschwerpunkte
- ASIC-Design komplexer digitaler Schaltungen oder Schaltungsblöcke
- modellbasierte Entwurfsmethodik
- asynchrones und GALS-Design
- Radhard ASIC-Design
- Test von Digital- und Mixed-Signal-Schaltkreisen
- Bare die Mounting/Wire Bonding
- PCB Assembly
- Radhard Design digitaler Schaltungen
- strahlungsfeste digitale Schnittstellen
Service
- ASIC-Entwurf
- Test von digitalen und mixed-Signal-SoCs
- Leiterplattenentwurf
- Chip Assembly
