Einrichtungen für Funktionaltest an Integrierten Schaltungen
Einrichtungen für Funktionaltest an Integrierten Schaltungen
Produktions-Testsystem - Advantest 93000
Power supply:
2xGP-DPS: 4 ch., max 16 A, ±8 V force/measure
MS-DPS: 8 ch., max 16 A, ±8 V force/measure
DPS32: 32 ch., max 48 A @ 3 V, 0-7 V force/measure
Digitale Ressourcen:
2xPS1600: 256 ch @ 533 Mb/s, 32 ch @ 1.6 Gb/s
1xPS9G: 64 ch @ 800 Mb/s, 32 ch @ 8 Gb/s
1xPSSL: 16 ch @ 16 Gb/s
Analoge Ressourcen:
MBAV8+:
Quelle 4 AWG, max 200 MHz @ 500 Ms/s
Messen 4 Digitalisierer, max 16 bit @ 300 MHz
V-Quelle, PMU, HPPMU-Multiplex
Zusatz-Software für Speichertest und Scantest-Analyse
Geeignet für manuellen Packagetest und automatischen Wafertest (in Verbindung mit UF200 Waferprober)
Accretech UF200 Waferprober
Vollautomatischer Waferprober für bis zu 25 Wafer/Los
Geeignet für 6- und 8-Zoll Wafer
Temperaturchuck: -40°C bis +125°C
Supports 6inch and 8inch wafers
Temperature controlled chuck, -40°C up to +125°C