Der IHP-Doktorand Tommaso Rizzi erhielt den Best Student Paper Award auf dem renommierten IEEE International Integrated Reliability Workshop 2022, der im Stanford Sierra Conference Center in Fallen Leaf Lake, USA, stattfand. Er präsentierte seine Arbeit „Exploring Process-Voltage-Temperature Variations Impact on 4T1R Multiplexers for Energy-aware Resistive RAM-based FPGAs“ als Ergebnis einer langfristigen Zusammenarbeit zwischen dem IHP, der Università degli Studi di Ferrara und der Politecnico di Milano, Italien.
Laut Tommaso Rizzi können RRAM-Bauelemente eine attraktive Anwendung in der Verbindungsstruktur moderner FPGAs finden, was zu erheblichen Verbesserungen in Bezug auf Energieverbrauch und Geschwindigkeit führt. Die in dieser Arbeit erzielten vielversprechenden Ergebnisse sind eine wichtige Vorarbeit für die Zukunft dieser Technologie und bringen uns der tatsächlichen Implementierung eines energieeffizienten, auf RRAMs basierenden FPGAs näher, das in der Lage ist, sein Programmierverfahren an seine Betriebsbedingungen und die Zielumgebung anzupassen. Diese Art von Architektur könnte eine praktikable Alternative zur herkömmlichen Implementierung darstellen, insbesondere für Internet der Dinge (IoT)- und Edge-Computing-Anwendungen.
Der Fokus des IEEE International Integrated Reliability Workshops (IIRW) liegt auf die Gewährleistung der Zuverlässigkeit elektronischer Bauelemente durch Herstellung, Entwurf, Prüfung, Charakterisierung und Simulation sowie auf die Identifizierung von Fehlern und physikalischen Mechanismen, die für Zuverlässigkeitsprobleme verantwortlich sind.
Der Best Student Paper Award wurde im Nachgang zur Veranstaltung verliehen.
