Design & Testmethodik

Die Forschungsgruppe Design & Test Methodology befasst sich mit Themen in den Bereichen ASIC-Design, Testmethoden auf Chip- und Wafer-Ebene sowie Chip-Integration in Gehäuse oder Leiterplatte. Diese Gruppe konzentriert sich auf die Bereitstellung der Dienstleistungen für interne oder externe Kunden oder die Arbeit an den angewandten industrierelevanten Projekten.

Forschungsziele

  • Chip Design & Test
  • Chip Integration

Forschungsschwerpunkte

  • ASIC-Design komplexer digitaler Schaltungen oder Schaltungsblöcke
    • modellbasierte Entwurfsmethodik
    • asynchrones und GALS-Design
    • Radhard ASIC-Design
    • Test von Digital- und Mixed-Signal-Schaltkreisen
    • Bare die Mounting/Wire Bonding
  • PCB Assembly
  • Radhard Design digitaler Schaltungen
  • strahlungsfeste digitale Schnittstellen

Service

  • ASIC-Entwurf
  • Test von digitalen und mixed-Signal-SoCs
  • Leiterplattenentwurf
  • Chip Assembly

Prof. Dr.-Ing. Miloš Krstić

IHP
Im Technologiepark 25
15236 Frankfurt (Oder)
Deutschland

Sekretariat:
Heike Wasgien
Telefon: +49 335 5625 342
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